【嘉勤点评】日月光的集成电路专利，通过将运动构件与输入端口连接，可实现重力斜背式分选机的机台与测试机的测试头的自动对准，不仅提高了生产效率，而且避免了对测试装置造成损坏。
集微网消息，随着芯片测试外包订单扩大和芯片制造客户长期产能利用承诺的支持下，日月光的芯片测试业务逐渐增长甚至达到紧绷状态。
在集成电路产品的制造过程中，需要对制造完成的集成电路产品进行测试。通常，使用测试机和重力斜背式分选机筛选出具有结构缺陷或性能不符合要求的集成电路产品。然而，现有技术只能通过人工手段完成上述动作，这存在着诸多缺陷。一方面，使用人工方式移动测试头和重力斜背式分选机的机台费时费力。另一方面，依靠人工经验调整测试头与重力斜背式分选机的机台，难以使二者准确地平行，而且效率低下。
为此，日月光于2021年12月29日申请了一项名为“用于测试集成电路产品的装置”的发明专利（申请号: 202111636878.0）,申请人为日月光半导体（昆山）有限公司。
图1 用于测试集成电路产品的装置和重力斜背式分选机示意图
图1为本发明提出的用于测试集成电路产品的装置和重力斜背式分选机示意图，测试集成电路产品的装置100具有输入端口10及运动构件30，装置具有沿着X方向(即，第一方向)上延伸的长度、沿着Y方向(即，第二方向)上延伸的高度，及沿着垂直于X-Y所在平面的方向延伸的厚度。第一方向垂直于第二方向。
输入端口10可控制运动构件30的运动。操作人员可通过操作输入端口10使得运动构件30的第一部分301在第一方向及第二方向中的至少一者上运动，以此带动运动构件30的第二部分303在X方向上的移动和Y方向上的移动，从而将测试集成电路产品的装置100调整到与重力斜背式分选机20进行配合的合适位置。
图2 运动构件部分示意图
图2为运动部件的部分结构示意图，运动构件与输入端口连接包括第一部分301及第二部分303。第一部分可带动第二部分沿着测试集成电路产品装置的第一方向及第二方向中的至少一者移动，连接至测试集成电路产品的装置的第三部分307。第三部分连接至输入端口，沿着装置10的Y方向上移动，从而带动第一部分也沿着装置10的Y方向上移动，以调整第一部分和第二部分的高度。第三部分带动第一部分围绕X轴转动，以调整第一部分与水平面之间的角度。其中第一部分可包括第一臂3011、第二臂3013及第三臂3015。第一臂和第二臂可相对设置。
第一臂中有第一传动元件301a，可以连接至第二部分以带动第二部分移动的。当第一传动元件沿正X方向移动时，带动第二部分沿正X方向移动，以缩短第二部分与重力斜背式分选机在X方向上的距离。当第一传动元件沿负X方向移动时，带动第二部分沿负X方向移动，以增加第二部分与重力斜背式分选机在X方向上的距离。
简而言之，日月光的集成电路专利，通过将运动构件与输入端口连接，可实现重力斜背式分选机的机台与测试机的测试头的自动对准，不仅提高了生产效率，而且避免了对测试装置造成损坏。
日月光是全球最大的半导体集成电路封装测试服务公司。在全球封装测试产业中，拥有最完整的供应链系统。未来日月光将继续专注于技术创新与新产品开发。